專業銷售 德國Innowep設備OPTOTOP 高精度3-D輪廓剖面計

光學表面測量系統：用于在無接觸方式下，測量表面輪廓，高復雜的納米，微米及宏觀的幾何結構，應用于研究與開發，入庫檢驗，質量管理及不合格分析。

優點：

※ 簡單方便的操作

※ 快速的數據采集

※ 對各種樣品，材料和涂裝進行智能檢測。

※ 線性輪廓的微粗糙度值

※ 粗糙度值測試(構造–紋理分析)

※ 實現以2-D線性剖面顯示，3-D顯示表面輪廓及高度剖面

技術參數：

※ 感應器：色光式共軛焦

※ 測量范圍Z*：300μm 1mm 2mm

※ 解析度Z*：12nm 25nm 75nm

※ 側向解析度：1.55μm　 2μm　　4μm

※ 測量感應距離：11mm　12.7mm　16.4mm

※ 測量頻率：30Hz，100Hz，300Hz，1kHz

※ 標準XY軸試驗范圍：60x60mm

※ 移動速度：0.1 ~ 10mm/s

※ 標準樣品臺大小：165x165mm或定制品

應用范圍：

※ 對于平坦表面、有結構表面及彎曲表面的粗糙度及結構分析。

※ 測量宏觀和微觀的幾何結構，平面控制。

※ 表面控制，例如壓花輥(選購配件：移動式裝置)

Example：寫字用紙

Example：結構性皮革(3-D輪廓)

Example：Freshel(佛氏聚光燈)鏡片(3-D輪廓

如果您對本產品感興趣，請與我們聯系
聯系電話: 400670-5118     王先生
傳真: 010-87951709  手機：手機：13521412287
QQ：1095688308       Email: 1095688308@qq.com
網址：www.annovatech.com
北京東方安諾生化科技有限公司